Degradation of electrooptical characteristics of serial GaP light-emitting diodes, caused by fast electrons

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Semiconductor physics, quantum electronics, and optoelectronics quantum electronics, and optoelectronics, 2015-09, Vol.18 (3), p.312-316
1. Verfasser:	Konoreva, O. V.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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