Analysing an Effect of Buffer Capacity and Periodic Dirty Buffer Flush on Data Lifetime

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Veröffentlicht in:International journal of engineering trends and technology 2020-04, Vol.68 (4), p.54-58
Hauptverfasser: Shin, Ilhoon, Lee, Kyungah
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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