Statistical optics modeling of dark-field scattering in X-ray grating interferometers: Part 1. Theory

A grating-based Talbot-Lau X-ray interferometer provides three imaging modalities, namely attenuation, differential phase contrast, and dark field. Of these, dark-field imaging is uniquely capable of detecting and characterizing micron-scale fine structure in an object via small-angle scattering tha...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Optics express 2021-12, Vol.29 (25), p.40891
Hauptverfasser: Wilde, Jeffrey P., Hesselink, Lambertus
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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