Fabrication of broadband anti-reflective layers by mask-free etching TiO 2 films
We present a simple way to make TiO anti-reflective layers on top of silicon substrates. Surfaces of TiO films have been modified by radio frequency plasma with CF as an etchant. Mask-free etching process on the polycrystalline films leads to the formation of random sub-wavelength textures. The refl...
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Veröffentlicht in: | Optics express 2018-11, Vol.26 (24), p.31917 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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