Microstructure Evolution of Sputtered Bi-Te Films during Post-Annealing: Phase Transformation and Its Effects on the Thermoelectric Properties

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of the Electrochemical Society 2011-01, Vol.158 (8), p.H808
Hauptverfasser:	Jeon, Seong-jae, Oh, Minsub, Jeon, Haseok, Kang, Stephen D., Lyeo, Ho-Ki, Hyun, Seungmin, Lee, Hoo-jeong
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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