Series Resistance and Mobility Extraction Method in Nanoscale MOSFETs

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of the Electrochemical Society 2009, Vol.156 (1), p.H34
Hauptverfasser:	Chen, William Po-Nien, Su, Pin, Goto, Ken-Ichi, Diaz, Carlos H.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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