Atomic Layer Deposition and Characterization of HfO[sub 2] Films on Noble Metal Film Substrates

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of the Electrochemical Society 2005, Vol.152 (7), p.F75
Hauptverfasser: Kukli, Kaupo, Aaltonen, Titta, Aarik, Jaan, Lu, Jun, Ritala, Mikko, Ferrari, Sandro, Hårsta, Anders, Leskelä, Markku
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0013-4651
DOI:10.1149/1.1922888