Effect of Interface Layers on Phase-Change Recording Material Analyzed by Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy Method

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Japanese Journal of Applied Physics 2007-06, Vol.46 (6S), p.3968
Hauptverfasser:	Nakai, Tsukasa, Yoshiki, Masahiko, Ohmachi, Noritake
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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