Surface Potential Measurement by Atomic Force Microscopy Using Quartz Resonator

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Japanese Journal of Applied Physics 2006-03, Vol.45 (3S), p.1996
Hauptverfasser:	Heike, Seiji, Hashizume, Tomihiro
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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