I–V characteristic of p-n structures based on a continuous solid solutions (Si2)1 − xx(CdS)x

The I–V characteristics of the p -Si- n -(Si 2 ) 1 − x (CdS) x (0 ≤ x ≤ 0.01) structures are investigated at various temperatures. It is found that the I–V characteristic of such structures has a sublinear portion of the current growth with voltage V ≈ V 0 exp( JaW ). The experimental results can be...

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Veröffentlicht in:Semiconductors (Woodbury, N.Y.) N.Y.), 2009-04, Vol.43 (4), p.416-418
Hauptverfasser: Saidov, A. S., Leyderman, A. Yu, Usmonov, Sh. N., Kholikov, K. T.
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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