Raman Spectroscopy and Electroreflectance Studies of Self-Assembled SiGe Nanoislands Grown at Various Temperatures

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physics of the solid state 2005-01, Vol.47 (1), p.54
1. Verfasser: Valakh, M. Ya
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1063-7834
DOI:10.1134/1.1853444