Reliable ferroelectricity in sol–gel‐derived BiFeO 3 thin films below 200 nm

To evaluate optimizing processing conditions for bismuth ferrite BiFeO 3 (BFO) thin films with thicknesses below 200 nm on Pt(111)/Ti/SiO 2 /Si substrates. The impact of the amorphous components, as well as defects and elemental composition changes and microstructure evolution (i.e., grain size) as...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of the American Ceramic Society 2023-12
Hauptverfasser:	Gao, Xuan, Dai, Le, Liu, Yang, Wang, Ke, Karpinsky, D. V., Liu, Lisha, Wang, Yaojin
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!