Influence of Noise on Scattering-Parameter Measurements

We present a general model of noisy scattering-parameter (S-parameter) measurements performed by a vector network analyzer (VNA). The residual error of the S-parameter due to the noise is examined to appear like a complex Gaussian quotient. The statistical analysis of the residual error is given, an...

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Veröffentlicht in:IEEE transactions on microwave theory and techniques 2020-11, Vol.68 (11), p.4925-4939
Hauptverfasser: Gu, Dazhen, Jargon, Jeffrey A., Ryan, Matthew J., Hubrechsen, Anouk
Format: Artikel
Sprache:eng
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