Influence of Noise on Scattering-Parameter Measurements
We present a general model of noisy scattering-parameter (S-parameter) measurements performed by a vector network analyzer (VNA). The residual error of the S-parameter due to the noise is examined to appear like a complex Gaussian quotient. The statistical analysis of the residual error is given, an...
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Veröffentlicht in: | IEEE transactions on microwave theory and techniques 2020-11, Vol.68 (11), p.4925-4939 |
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Hauptverfasser: | , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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