Analysis of Atomistic Dopant Variation and Fermi Level Depinning in Nanoscale Contacts

Using quantum transport simulations of metal-semiconductor junctions, we assess the viability of barrier thinning with dopants and barrier lowering with interfacial layers as solutions for contact resistivity in nanoscale transistors. Our atomistic simulations show that the discreteness of dopants l...

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Veröffentlicht in:IEEE transactions on electron devices 2017-09, Vol.64 (9), p.3768-3774
Hauptverfasser: Shine, Gautam, Saraswat, Krishna C.
Format: Artikel
Sprache:eng
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