A 90-nm CMOS 1.8-V 2-Gb NAND flash memory for mass storage applications

A 1.8-V 2-Gb NAND flash memory has been successfully developed on a 90-nm CMOS STI process technology, resulting in a 141-mm/sup 2/ die size and a 0.044-/spl mu/m/sup 2/ effective cell. For the higher level integration, critical layers are patterned with KrF photolithography. The device has three no...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IEEE journal of solid-state circuits 2003-11, Vol.38 (11), p.1934-1942
Hauptverfasser: Lee, J., Sung-Soo Lee, Oh-Suk Kwon, Kyeong-Han Lee, Dae-Seok Byeon, In-Young Kim, Kyoung-Hwa Lee, Young-Ho Lim, Byung-Soon Choi, Jong-Sik Lee, Wang-Chul Shin, Jeong-Hyuk Choi, Kang-Deog Suh
Format: Artikel
Sprache:eng
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