A 90-nm CMOS 1.8-V 2-Gb NAND flash memory for mass storage applications
A 1.8-V 2-Gb NAND flash memory has been successfully developed on a 90-nm CMOS STI process technology, resulting in a 141-mm/sup 2/ die size and a 0.044-/spl mu/m/sup 2/ effective cell. For the higher level integration, critical layers are patterned with KrF photolithography. The device has three no...
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Veröffentlicht in: | IEEE journal of solid-state circuits 2003-11, Vol.38 (11), p.1934-1942 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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