Depth Resolution Enhancement Technique for CMOS Time-of-Flight 3-D Image Sensors

Introducing Time-of-Flight 3-D image sensors to actual engineering applications, such as pattern recognition, is constrained not only by their limited depth and lateral resolution, but also by how similar the precision of depth measurement throughout the whole pixel-matrix is. In real operating envi...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IEEE sensors journal 2012-06, Vol.12 (6), p.2320-2327
Hauptverfasser: Hafiane, M. L., Wagner, W., Dibi, Z., Manck, O.
Format: Artikel
Sprache:eng
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