Subthreshold Kink Effect in Gate-All-Around MOSFETs Based on Void Embedded Silicon on Insulator Technology

The kink effect of gate-all-around (GAA) MOSFET has been experimentally validated by our GAA devices fabricated on a void embedded silicon-on-insulator (VESOI) substrate. In this VESOI GAA device, a consistent and favorable decrease in subthreshold swing (SS) is observed as V_{\mathrm { d}} increa...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IEEE journal of the Electron Devices Society 2024, Vol.12, p.941-947
Hauptverfasser: Liu, Yuxin, Liu, Qiang, Chen, Jin, Mu, Zhiqiang, Wei, Xing, Yu, Wenjie
Format: Artikel
Sprache:eng
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