An empirical model of enhancement-induced defect activity in software
This study exploits the relationship between functional enhancement (FE) activity and defect distribution to produce a model for predicting FE induced defect activity. We achieve this in 2 steps: (1) apply canonical correlation analysis to model the relationship between a set of FE activity indicato...
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Veröffentlicht in: | IEEE transactions on reliability 1995-12, Vol.44 (4), p.672-676 |
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Hauptverfasser: | , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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