Scanning X-ray spectrometer for high-resolution Compton profile measurements at ESRF

A scanning‐type crystal spectrometer for high‐resolution Compton profile measurements has been constructed at the High Energy Inelastic Scattering Beamline (ID15B) of the ESRF. Radiation from a seven‐period asymmetrical permanent‐magnet wiggler or from a superconducting wavelength shifter is focused...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of synchrotron radiation 1999-03, Vol.6 (2), p.69-80
Hauptverfasser:	Suortti, P., Buslaps, T., Fajardo, P., Honkimäki, V., Kretzschmer, M., Lienert, U., McCarthy, J. E., Renier, M., Shukla, A., Tschentscher, Th, Meinander, T.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Compton scatterings X-ray spectrometers
Online-Zugang:	Volltext bestellen
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