Calculation of Decay Times from Coincidence Experiments

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physical Review (U.S.) Superseded in part by Phys. Rev. A, Phys. Rev. B: Solid State, Phys. Rev. C, and Phys. Rev. D Phys. Rev. B: Solid State, Phys. Rev. C, and Phys. Rev. D, 1950-02, Vol.77 (3), p.419-419
1. Verfasser:	Bay, Z.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	CIRCUITS COINCIDENCE METHODS DECAY HALF-LIFE MEASURED VALUES PHYSICS RADIOACTIVITY RESOLUTION
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