Coulomb Screening in Intrinsic Medium-Gap Semiconductors and the Electrical Conductivity of Silicon at Elevated Temperatures

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physical review 1969-01, Vol.185 (3), p.1127-1132
Hauptverfasser:	Burton, L. C., Madjid, A. H.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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