Comparison of force sensors for atomic force microscopy based on quartz tuning forks and length-extensional resonators

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physical review. B, Condensed matter and materials physics Condensed matter and materials physics, 2011-09, Vol.84 (12), Article 125409
Hauptverfasser:	Giessibl, Franz J., Pielmeier, Florian, Eguchi, Toyoaki, An, Toshu, Hasegawa, Yukio
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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