Structural, Dielectric, and Interface Properties of Crystalline Barium Silicate Films on Si(100): A Robust High- κ Material

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review applied 2016-05, Vol.5 (5), Article 054006
Hauptverfasser: Islam, S., Hofmann, K. R., Feldhoff, A., Pfnür, H.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:2331-7019
2331-7019
DOI:10.1103/PhysRevApplied.5.054006