Measurement of Surface Photovoltage by Atomic Force Microscopy under Pulsed Illumination

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review applied 2016-04, Vol.5 (4), Article 044018
Hauptverfasser: Schumacher, Zeno, Miyahara, Yoichi, Spielhofer, Andreas, Grutter, Peter
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:2331-7019
2331-7019
DOI:10.1103/PhysRevApplied.5.044018