Probing Thermally Activated Atomic and Nanocrystalline Defect Motion Through Noise Processes in Ru O 2 Nanowires

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review applied 2020-08, Vol.14 (2), Article 024050
Hauptverfasser: Yeh, Sheng-Shiuan, Yu, Cheng-Ya, Lee, Yi-Te, Chiu, Shao-Pin, Lin, Juhn-Jong
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:2331-7019
2331-7019
DOI:10.1103/PhysRevApplied.14.024050