Determination of the normalized-surface-height autocorrelation function of a two-dimensional randomly rough dielectric surface by the inversion of light-scattering data

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Veröffentlicht in:Physical review. A 2016-04, Vol.93 (4), Article 043829
Hauptverfasser: Simonsen, I., Hetland, Ø. S., Kryvi, J. B., Maradudin, A. A.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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