Sensitivity of Rydberg microwave electrometry limited by laser frequency noise

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review. A 2024-03, Vol.109 (3), Article 032609
Hauptverfasser: Yang, Bowen, Yan, Yuhan, Li, Xuejie, Zhao, Haojie, Xiao, Ling, Li, Xiaolin, Deng, Jianliao, Cheng, Huadong
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:2469-9926
2469-9934
DOI:10.1103/PhysRevA.109.032609