Deep learning-guided surface characterization for autonomous hydrogen lithography
As the development of atom scale devices transitions from novel, proof-of-concept demonstrations to state-of-the-art commercial applications, automated assembly of such devices must be implemented. Here we present an automation method for the identification of defects prior to atomic fabrication via...
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Veröffentlicht in: | Machine learning: science and technology 2020-06, Vol.1 (2), p.25001, Article 025001 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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