Development of a high-performance readout circuit for photoelectric detectors
A high-performance readout circuit for photoelectric detectors is developed in this paper to achieve high-speed low-noise image detection. Here, the W/L ratio of the first-stage P-type following transistor is reduced to decrease the parasitic capacitance of buses, and the bias voltage of the P-type...
Gespeichert in:
Veröffentlicht in: | AIP advances 2020-10, Vol.10 (10), p.105026-105026-7 |
---|---|
Hauptverfasser: | , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Schreiben Sie den ersten Kommentar!