Quantification of hole-trap concentration in degraded polymer light-emitting diodes using impedance spectroscopy
The degradation of polymer light-emitting diodes (PLEDs) under current stress is governed by the formation of hole traps. The presence of traps is reflected in the low-frequency response of PLEDs by a negative contribution to the capacitance that originates from trap-assisted recombination. Since th...
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Veröffentlicht in: | Applied physics letters 2019-04, Vol.114 (16) |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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