Calibrated work function mapping by Kelvin probe force microscopy

We propose and demonstrate the implementation of an alternative work function tip calibration procedure for Kelvin probe force microscopy under ultrahigh vacuum, using monocrystalline metallic materials with known crystallographic orientation as reference samples, instead of the often used highly or...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Review of scientific instruments 2018-04, Vol.89 (4), p.043702-043702
Hauptverfasser:	Fernández Garrillo, Pablo A., Grévin, Benjamin, Chevalier, Nicolas, Borowik, Łukasz
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Condensed Matter Physics
Online-Zugang:	Volltext
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