Direct measurement of plasmon propagation lengths on lithographically defined metallic waveguides on GaAs

We present optical investigations of rectangular surface plasmon polariton (SPP) waveguides (WGs) lithographically defined on GaAs substrates. The plasmon propagation length is directly determined using a confocal microscope, with independent polarization control in both excitation and detection cha...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of applied physics 2011-12, Vol.110 (12), p.123106-123106-4
Hauptverfasser:	Bracher, G., Schraml, K., Jakubeit, C., Kaniber, M., Finley, J. J.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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