Raman scattering from Ge-Si core-shell nanowires: Validity of analytical strain models

The Raman scattering spectra from Ge-Si core-shell nanowires have been computed using two alternative strain models: A simple analytical approach that assumes cylindrical symmetry and isotropic elastic constants, and a more realistic method that incorporates the actual nanowire geometry and the cubi...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of applied physics 2011-12, Vol.110 (12), p.124305-124305-8
Hauptverfasser:	Singh, Rachna, Dailey, Eric J., Drucker, Jeff, Menéndez, José
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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