A new algorithm of quantitative texture analysis adapted to thin films

A new algorithm of quantitative texture analysis, i.e., a modified maximum entropy method, was applied to the texture analysis of polycrystalline thin films. The algorithm program suitable for determining the inverse pole figure of polycrystalline thin films with hexagonal structure was developed an...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of applied physics 1996-05, Vol.79 (9), p.7376-7378
Hauptverfasser:	Wang, Y. D., Liu, Y. D., Xu, J. Z., Liang, Z. D.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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