Photoluminescence properties of the Al0.48In0.52As/InP interface and the diffusion of carriers thereto

A study of the photoluminescence (PL) and photoluminescence excitation (PLE) properties of the interface luminescence of the staggered-aligned Al0.48In0.52As/InP is presented, together with a study of the diffusion of carriers to this interface. Two PL peaks originating from the interface were measu...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of applied physics 1993-06, Vol.73 (11), p.7804-7809
Hauptverfasser: OLSTHOORN, S. M, DRIESSEN, F. A. J. M, GILING, L. J
Format: Artikel
Sprache:eng
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