Anomalous Hall effect in InSb layers grown by metalorganic chemical vapor deposition on GaAs substrates

InSb epitaxial layers have been grown on GaAs substrates by low-pressure metalorganic chemical vapor deposition. A 3.15-μm-thick film yielded an x-ray full width at half maximum of 171 arcsec. A Hall mobility of 76 200 cm2/V s at 240 K and a full width at half maximum of 174 arcsec have been measure...

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Veröffentlicht in:Journal of applied physics 1993-05, Vol.73 (10), p.5009-5013
Hauptverfasser: BESIKCI, C, CHOI, Y. H, SUDHARSANAN, R, RAZEGHI, M
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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