Anomalous Hall effect in InSb layers grown by metalorganic chemical vapor deposition on GaAs substrates
InSb epitaxial layers have been grown on GaAs substrates by low-pressure metalorganic chemical vapor deposition. A 3.15-μm-thick film yielded an x-ray full width at half maximum of 171 arcsec. A Hall mobility of 76 200 cm2/V s at 240 K and a full width at half maximum of 174 arcsec have been measure...
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Veröffentlicht in: | Journal of applied physics 1993-05, Vol.73 (10), p.5009-5013 |
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Hauptverfasser: | , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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