Theory of deep level trap effects on generation-recombination noise in HgCdTe photoconductors

We present a theory of the effect of deep level centers on the generation-recombination (g-r) noise and responsivity of an intrinsic photoconductor. The deep level centers can influence the g-r noise and responsivity in three main ways: (i) they can shorten the bulk carrier lifetime by Shockley–Read...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:J. Appl. Phys.; (United States) 1985-07, Vol.58 (1), p.579-587
Hauptverfasser: IVERSON, A. E, SMITH, D. L
Format: Artikel
Sprache:eng
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