Thermal characterization of dielectric and phase change materials for the optical recording applications

Advances in the phase change optical recording technology strongly depend on the optical and thermal optimizations of the metal/ZnS–SiO2/phase change multilayer structure, which requires accurate modeling and thermal characterization of the phase change media structure. In the present work, the ther...

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Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of applied physics 2006-07, Vol.100 (2)
Hauptverfasser:	Yang, Y., Li, C.-T., Sadeghipour, S. M., Dieker, H., Wuttig, M., Asheghi, M.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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