Direct studies of domain switching dynamics in thin film ferroelectric capacitors

An experimental approach for direct studies of the polarization reversal mechanism in thin film ferroelectric capacitors based on piezoresponse force microscopy (PFM) in conjunction with pulse switching capabilities is presented. Instant domain configurations developing in a 3 × 3 μ m 2 capacitor at...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Applied physics letters 2005-08, Vol.87 (8), p.082902-082902-3
Hauptverfasser:	Gruverman, A., Rodriguez, B. J., Dehoff, C., Waldrep, J. D., Kingon, A. I., Nemanich, R. J., Cross, J. S.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!