Measurement of second order susceptibilities of GaN and AlGaN

Rotational Maker fringes, scaled with respect to χ 11 ( 2 ) of crystalline quartz, were used to determine the second order susceptibilities χ 31 ( 2 ) and χ 33 ( 2 ) for samples of thin Al x Ga 1 − x N films, a thicker GaN film, and a free-standing GaN platelets. The pump wavelength was 1064 nm . Th...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of applied physics 2005-03, Vol.97 (5), p.053512-053512-13
Hauptverfasser:	Sanford, N. A., Davydov, A. V., Tsvetkov, D. V., Dmitriev, A. V., Keller, S., Mishra, U. K., DenBaars, S. P., Park, S. S., Han, J. Y., Molnar, R. J.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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