Near-field microwave microscopy on nanometer length scales

The Near-field scanning microwave microscope (NSMM) can be used to measure ohmic losses of metallic thin films. We report on the presence of an interesting length scale in the probe-to-sample interaction for the NSMM. We observe that this length scale plays an important role when the tip-to-sample s...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of applied physics 2005-02, Vol.97 (4), p.044302-044302-6
Hauptverfasser:	Imtiaz, Atif, Pollak, Marc, Anlage, Steven M., Barry, John D., Melngailis, John
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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