SSIOD: The next generation
Surface stress induced optical deflection (SSIOD) is a bending sample method for the in situ determination of the surface stress with a typical resolution of about 0.15 N ∕ m . Here we present the latest version of SSIOD with major improvements concerning the sample shape and clamping, the laser sys...
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| Veröffentlicht in: | Review of scientific instruments 2005-02, Vol.76 (2), p.023903-023903-7 |
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| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | eng |
| Online-Zugang: | Volltext |
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