Isotopic Abundance Determination of Copper by Sputtering
A spectrometer is described, in which an energy-resolved Cs ion beam sputters a Cu target at an incident energy of 0.3 to 3 kev. The sputtered Cu ions are then accelerated into a second part of the spectrometer, in which the Cu/ sup 63/ and Cu/sup 65/ components are separated completely. The complet...
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Veröffentlicht in: | Journal of Applied Physics (U.S.) 1962-09, Vol.33 (9), p.2915-2915 |
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Hauptverfasser: | , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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