High resolution magnetic force microscopy using focused ion beam modified tips

Atomic force microscope tips coated by the thermal evaporation of a magnetic 30 nm thick Co film have been modified by focused ion beam milling with Ga+ ions to produce tips suitable for magnetic force microscopy. Such tips possess a planar magnetic element with high magnetic shape anisotropy, an ex...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Applied physics letters 2002-07, Vol.81 (5), p.865-867
Hauptverfasser:	Phillips, G. N., Siekman, M., Abelmann, L., Lodder, J. C.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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