Quantum confinement effect in self-assembled, nanometer silicon dots

The first subband energy at the valence band of self-assembled silicon quantum dots grown by low-pressure chemical vapor deposition on ultrathin SiO2/Si substrates has been measured as an energy shift at the top of the valence band density of states by using high-resolution x-ray photoelectron spect...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Applied physics letters 1998-12, Vol.73 (26), p.3881-3883
Hauptverfasser: Ding, S. A., Ikeda, M., Fukuda, M., Miyazaki, S., Hirose, M.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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