Quantum confinement effect in self-assembled, nanometer silicon dots
The first subband energy at the valence band of self-assembled silicon quantum dots grown by low-pressure chemical vapor deposition on ultrathin SiO2/Si substrates has been measured as an energy shift at the top of the valence band density of states by using high-resolution x-ray photoelectron spect...
Gespeichert in:
Veröffentlicht in: | Applied physics letters 1998-12, Vol.73 (26), p.3881-3883 |
---|---|
Hauptverfasser: | , , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Schreiben Sie den ersten Kommentar!