Growth control of GaAs epilayers with specular surface free of pyramids and twins on nonmisoriented (111) B substrates
Growth control of GaAs epilayers with specular surface, free of superficial pyramid-shape features and bulk twins, is achieved on a nonmisoriented GaAs(111)B substrate via in situ, real time measurement of specular beam intensity of reflection high-energy electron diffraction (RHEED). Regimes of gro...
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Veröffentlicht in: | Applied physics letters 1991-04, Vol.58 (16), p.1771-1773 |
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Hauptverfasser: | , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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