Growth and characterization of ZnTe films grown on GaAs, InAs, GaSb, and ZnTe

We report the successful growth of ZnTe on nearly lattice-matched III-V buffer layers of InAs (0.75%), GaSb (0.15%), and on GaAs and ZnTe by molecular beam epitaxy. In situ reflection high-energy electron diffraction measurements showed the characteristic streak patterns indicative of two-dimensiona...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Applied physics letters 1989-09, Vol.55 (12), p.1217-1219
Hauptverfasser: RAJAKARUNANAYAKE, Y, COLE, B. H, MCCALDIN, J. O, CHOW, D. H, SODERSTROM, J. R, MCGILL, T. C, JONES, C. M
Format: Artikel
Sprache:eng
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