Growth and characterization of ZnTe films grown on GaAs, InAs, GaSb, and ZnTe
We report the successful growth of ZnTe on nearly lattice-matched III-V buffer layers of InAs (0.75%), GaSb (0.15%), and on GaAs and ZnTe by molecular beam epitaxy. In situ reflection high-energy electron diffraction measurements showed the characteristic streak patterns indicative of two-dimensiona...
Gespeichert in:
Veröffentlicht in: | Applied physics letters 1989-09, Vol.55 (12), p.1217-1219 |
---|---|
Hauptverfasser: | , , , , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Schreiben Sie den ersten Kommentar!