Micro-heterogeneity study of trace elements in USGS, MPI-DING and NIST glass reference materials by means of synchrotron micro-XRF

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of analytical atomic spectrometry 2003-03, Vol.18 (4), p.350-357
Hauptverfasser:	Kempenaers, L., Janssens, K., Jochum, K. P., Vincze, L., Vekemans, B., Somogyi, A., Drakopoulos, M., Adams, F.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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