Device-level photonic testing
Non-invasive, multispectral characterization of integrated photonic circuits paves the way towards optical methodologies ready for industrial applications.
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Nature photonics 2015, Vol.9 (1), p.8-9 |
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| Format: | Artikel |
| Sprache: | eng |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Volltext |
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| Zusammenfassung: | Non-invasive, multispectral characterization of integrated photonic circuits paves the way towards optical methodologies ready for industrial applications. |
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| ISSN: | 1749-4885 1749-4893 |
| DOI: | 10.1038/nphoton.2014.313 |