Surface Area Characterization of Obliquely Deposited Metal Oxide Nanostructured Thin Films
The glancing angle deposition (GLAD) technique is used to fabricate nanostructured thin films with high surface area. Quantifying this property is important for optimizing GLAD-based device performance. Our group has used high-sensitivity krypton gas adsorption and the complementary technique of cyc...
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Veröffentlicht in: | Langmuir 2010-03, Vol.26 (6), p.4368-4376 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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