Surface Area Characterization of Obliquely Deposited Metal Oxide Nanostructured Thin Films

The glancing angle deposition (GLAD) technique is used to fabricate nanostructured thin films with high surface area. Quantifying this property is important for optimizing GLAD-based device performance. Our group has used high-sensitivity krypton gas adsorption and the complementary technique of cyc...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Langmuir 2010-03, Vol.26 (6), p.4368-4376
Hauptverfasser: Krause, Kathleen M, Taschuk, Michael T, Harris, Ken D, Rider, David A, Wakefield, Nicholas G, Sit, Jeremy C, Buriak, Jillian M, Thommes, Matthias, Brett, Michael J
Format: Artikel
Sprache:eng
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